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安捷伦展示自动光学检测AOI 平台

时间2008-04-08 16:31:13作者:CNET科技资讯网
本文关键词:安捷伦

安捷伦科技日前宣布推出新的自动光学检测(AOI)平台,该系统具有回流焊后、回流焊前和 2D 焊膏检测能力,能够适应表面贴装技术(SMT)所有的生产和检验领域。

Agilent Medalist sj5000正是为了今天高密度和高复杂度印制电路板组装而专门开发的,能够检验封装尺寸最小的 01005 元件,并且毫不影响运行速度和分辨率。

安捷伦科技测量系统部副总裁兼总经理 Daniel Mak 表示:“我们的系统最近刚通过回流焊前和 2D 焊膏检验能力的验证,使我们再次拥有能集成到生产环境所有领域的通用平台。我们也正在世界各地的重要知识中心投资开发新的 AOI 技术,并承诺为客户提供最高质量和最大价值。”

客户可以简便地将Medalist sj5000 集成到已使用 Agilent Medalist SJ50 Series 3 AOI 系统的生产线中。

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